Mit Hilfe des Transmissionselektronenmikroskops können Objekte mit hoher Auflösung abgebildet werden. Voraussetzung dafür ist eine gute Durchstrahlbarkeit der Proben, die durch eine Schnittdicke bis ca. 100 nm gewährleistet wird.

Mit dem Jeol JEM 1011 können Objekte bei einer Beschleunigungsspannung von 100 KV bis zu einer 200.000fachen Vergrößerung mikroskopiert werden. Das Mikroskop ist mit einer Digitalkamera (MegaView III) ausgestattet.